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2017年中考數(shù)學(xué)命題常考考點(diǎn)及易錯(cuò)點(diǎn)(三)
?伎键c(diǎn):函數(shù)
易錯(cuò)點(diǎn)1:各個(gè)待定系數(shù)表示的的意義。
易錯(cuò)點(diǎn)2:熟練掌握各種函數(shù)解析式的求法,有幾個(gè)的待定系數(shù)就要幾個(gè)點(diǎn)值。
易錯(cuò)點(diǎn)3:利用圖像求不等式的解集和方程(組)的解,利用圖像性質(zhì)確定增減性。
易錯(cuò)點(diǎn)4:兩個(gè)變量利用函數(shù)模型解實(shí)際問(wèn)題,注意區(qū)別方程、函數(shù)、不等式模型解決不等領(lǐng)域的問(wèn)題。
易錯(cuò)點(diǎn)5:利用函數(shù)圖象進(jìn)行分類(lèi)(平行四邊形、相似、直角三角形、等腰三角形)以及分類(lèi)的求解方法。
易錯(cuò)點(diǎn)6:與坐標(biāo)軸交點(diǎn)坐標(biāo)一定要會(huì)求。面積較大值的求解方法,距離之和的較小值的求解方法,距離之差較大值的求解方法。
易錯(cuò)點(diǎn)7:數(shù)形結(jié)合思想方法的運(yùn)用,還應(yīng)注意結(jié)合圖像性質(zhì)解題。函數(shù)圖象與圖形結(jié)合學(xué)會(huì)從復(fù)雜圖形分解為簡(jiǎn)單圖形的方法,圖形為圖像提供數(shù)據(jù)或者圖像為圖形提供數(shù)據(jù)。
易錯(cuò)點(diǎn)8:自變量的取值范圍有:二次根式的被開(kāi)方數(shù)是非負(fù)數(shù),分式的分母不為0,0指數(shù)底數(shù)不為0,其它都是全體實(shí)數(shù)。
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